設計和測試工程師們現在可以使用美國國家儀器公司（National Instruments，簡稱NI）最新推出的PCI版本的PXI-5922可變分辨率數字化儀（也稱為基于PC的示波器）可以實現較大動態范圍的測量。PXI-5922數字化儀提供目前市場上數字化儀產品中最高的動態范圍，這一具有無與倫比動態性能和靈活性的通用儀器現在正式推出PCI版本，適用于包括通訊、半導體、生化以及超音速非破壞性測試(ultrasonic nondestructive test，NDT)的許多領域。 不同于傳統示波器或其他基于PC的數字化儀在所有采樣率上具有固定的分辨率，NI 5922數字化儀使用NI Flex II ADC技術，具有靈活的、用戶自定義的分辨率，并可在24位（500 kS/s）到16位（15 MS/s）之間任何一點進行采樣。NI Flex II ADC是一個加強的多位delta-sigma轉換器，它結合了專利技術，極大地降低了由多位轉換器中非線性造成的諧波，因此即便在高采樣率的情況下也可以獲得很好的動態范圍，可以幫助設計和測試工程師們直接數字化底層信號，而無需外部信號調理（例如濾波器和低噪聲放大器）。減少信號調理可以改進測量精度和可靠性，同時還能節省測試系統的開發時間和成本。由于這項專利技術的應用，PXI-5922可變分辨率數字化儀已經獲得了多個國際專業獎項，包括《Test & Measurement World》雜志的2006年度測試類產品，以及《EDN》雜志2005年度最熱門百佳產品獎。 工程師們借助使用PXI-5922數字化儀，已經解決了許多要求很高的應用，例如高端音頻和超聲波測試、高分辨率數－模轉換器的特性描述，以及基帶I/Q分析等。舉例來看，Analog Devices公司使用NI PXI-5922數字化儀來為他們高分辨率的數字至模擬轉換器(DAC)確定穩定時間，“我們選擇NI PXI-5922數字化儀是因為其前所未有的動態范圍，過濾噪聲后我們可以精確地測量穩定時間。” Analog Devices設計評估工程師Eoin English表示“這是市場上唯一一款具備高輸入電阻和高動態范圍的產品，幫助我們輕松地通過NI LabVIEW軟件進行配置和控制，縮短了產品開發時間。” 和其他NI數字化儀一樣，工程師們可以使用這一全新的可變分辨率數字化儀，任意波形發生器和數字波形發生器/分析儀在產品開發的任何一個階段（從設計驗證到生產測試）創建混合信號應用。設計和測試工程師們可以使用NI數字化儀，例如NI 5124 200 MS/s 12位數字化儀、NI 5122 100 MS/s 14位數字化儀以及NI PXI-5114 250 MS/s 8位數字化儀等，配合50多個內置于NI-SCOPE驅動軟件的測量例程快速開發測量系統。所有的NI數字化儀都配備有該驅動軟件，并可與NI LabVIEW圖形化開發環境、NI SignalExpress交互式測量軟件、用于Microsoft Visual Studio .NET的NI Measurement Studio和NI LabWindows/CVI ANSI C開發環境協同工作。 全新NI PXI/PCI 數字化儀 數字化儀產品號 最大實時采樣率 (MS/s) 最大隨機隔行掃描采樣(RIS)率 (GS/s) 帶寬 (MHz) 分辨率(Bits) NI 5114 250 5.0 125 8 NI 5124 200 4.0 150 12 NI 5122 100 2.0 100 14 NI 5922 15 - 6 16-24 (用戶定義)