2010年1月開始在University of Texas at San Antonio安裝的世界首臺JEM-ARM200F在2月初已獲得驚人結果。

　　能在短短3周內就能獲得至少78皮米分辨率彰顯了該儀器的超級穩定性和UTSA-JEOL出色的合作與技巧。

　　世界著名顯微學及納米技術學者，UTSA物理與天文系主任( physics and astronomy department chair )Dr. Miguel Yacaman親自與JEOL的技術人員合作，見證了這一驚世結果。

　　Yacaman說“有了這種水平的電鏡，應用潛力巨大”, 他還將JEM-ARM200F 比作探索銀河系奧秘的哈勃望遠鏡。

　　ARM200F展現了日本電子株式會社(JEOL) 60年以上透射電鏡研發的經驗，該儀器已將球差校正器與電鏡本體徹底融合，實現了超級電子光學能力和超強的抗干擾能力。

　　JEM-ARM200F 具有原子間圖像分辨率(atom-by-atom imaging resolution )和無與倫比的原子間空間分辨率(unmatched spatial resolution for atom-to-atom chemical mapping of materials)。