據日經BP社的報道，對于開展汽車類半導體業務來說，無損檢測必不可少”（日本國際整流器公司董事社長江坂 文秀）。2005年2月1日成立了半導體產品檢測部門??“質量檢測實驗室”的美國國際整流器公司（IR）“已能進一步滿足”汽車行業對半導體產品的要求。質量檢測實驗室投入使用后，此前需要送到美國進行的質量檢測，大分部均可在日本國內完成。從受理質量檢測申請，到產生最終檢測結果的時間預計將會縮短大約一半。“汽車行業要求，從質量檢測開始后，24小時內就要拿到第1份檢測報告”（江坂），因此必須比其他行業更迅速地實施質量檢測。這次成立的實驗室就能夠在這么短的時間內完成第1份檢測報告。據悉，假如客戶有要求，“我們還希望能夠臨時滿足”客戶自己參與質量檢測的要求（日本IR）。 　　這次成立的質量檢測實驗室配備了在不破壞半導體產品的情況下即可完成對封裝內部的布線、布線圖形狀、異物及模制樹脂剝離等分析的設備，從封裝中取出IC、直接對電氣特性進行檢測的設備，以及用于對IC等進行外觀檢查的設備等。在這些檢測設備中，包含可對半導體產品進行無損檢測的設備，對于開發汽車類半導體業務來說具有非常重大的意義。其原因在于“從汽車行業來說，通常都是在先將有可能存在問題的產品制成成品，進行徹底檢測后，才能進行下一步檢測”（江坂）。 　　今后，準備繼續增加檢測設備，不斷增強質量檢測實驗室的檢測能力。現階段只開展對封裝及芯片表面的檢測工作。不過，今后還將開展對芯片剖面的檢測工作，以及通過對更小區域進行檢測，來提高定位故障位置的檢測精度。比如，將引進可測定倍率遠遠超過現有倍率（10萬倍）的掃描電子顯微鏡，以及能夠對故障位置產生的微弱光線進行檢測的設備等。這些設備配套以后，將能完成與美國事務所完全相同的質量檢測工作。