安捷倫科技有限公司宣布，該公司對外推出一款波形發(fā)生器/快速測量單元(WGFMU)，用于其B1500A半導體設(shè)備分析儀。這種分析儀能執(zhí)行高速測量所需求的性能，及快速表征負偏壓溫度不穩(wěn)定性(NBTI)及其它諸如脈沖制的IV、RTS和新型非揮發(fā)性抗干擾的內(nèi)存像 PRAM/ReRAM等方面的應用。

       此次推出的安捷倫B1530A WGFMU產(chǎn)品在設(shè)計上，是針對研究員和可靠性研究的工程師的應用而言。安捷倫B1530A WGFMU是第一款自備齊全的模塊，它用于提供隨機線性波發(fā)生器(ALWG)與電流或電壓同步的快速測量，速度快達5ns，使其能夠提供高速IV特性。該性能解決了超高速負偏壓溫度不穩(wěn)定性的特性和大量擺在工程師和科學家們面前的下一代半導體設(shè)備的其它應用問題。

       另外，作為半導體元器件幾何尺寸收縮起來能低于65nm，由于是新材料、新結(jié)構(gòu)和更高IC操作溫度，使設(shè)備可靠性變得非常重要。在負偏壓和高溫情況下，負偏壓溫度不穩(wěn)定性尤其引起重大的閾值電壓漂移，使其成為關(guān)系高級半導體過程非常重要的可靠性因素之一。許多負偏壓溫度不穩(wěn)定性研究表明，測量的閾值電壓漂移取決于壓和時間。因此，工程師們必須盡可能快的估測晶體管的特性。此外，由于壓力的類型也會影響閾值電壓降級和設(shè)備的實時估計，測量都不僅需要在直流壓力之后，還要求在各種交流壓力后進行。