新興測量需求解決方案的領(lǐng)導(dǎo)者吉時(shí)利儀器公司(NYSE:KEI)，在2007年9月17日發(fā)布了其2600系SourceMeter?數(shù)字源表的兩款新產(chǎn)品2635和2636，自此形成業(yè)界技術(shù)最先進(jìn)、效費(fèi)比最高的半導(dǎo)體參數(shù)分析與測試解決方案。2635和2636采用最新特殊參數(shù)分析技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了高達(dá)lfa(10-15安)的測量分辨率，從而滿足了很多半導(dǎo)體、光電和納米器件的測試需求。此外，其基于儀器的多通道架構(gòu)相比普通的基于主機(jī)的源測量方案降低了50%的成本。通過其測試腳本處理器(TSPTM)和TSP-LinkTM互連通信總線，測試工程師可利用2636和2635快速構(gòu)建用于技術(shù)研究、特征分析、圓片分揀、可靠性測試、牛產(chǎn)監(jiān)測等多種測試應(yīng)用場合的高速測試系統(tǒng)。
　　2635和2636能夠?qū)崿F(xiàn)從飛安和微伏量級(jí)到200V／1.5A范圍的高效費(fèi)比直流和脈沖測試。它們可以配合PC機(jī)或獨(dú)立工作，測試速度比普通基于主機(jī)的源測量方案快四倍。此外，每種儀器內(nèi)置1個(gè)類似于PC的微處理器，支持各種簡單或復(fù)雜的測試程序(腳本)的編程與獨(dú)立執(zhí)行，包括提供信號(hào)源、測量、測試序列流程控制以及帶條件程序分支的判斷操作等。2635和2636極易與其他儀器集成構(gòu)成自動(dòng)測試系統(tǒng)，因此對于從事圓片級(jí)測試和封裝器件測試工作的元件制造商和半導(dǎo)體廠商都極具吸引力。同時(shí)，對于需要快速、方便地進(jìn)行器件與材料I-V特征分析的各領(lǐng)域研究人員和學(xué)者而言，其低成本優(yōu)勢十分誘人。